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攝像頭屏蔽器時間分辨發光衰減測量

    本發明涉及用于進行攝像頭內部檢查的成像設備,例如喉鏡。喉鏡在刀片內部的通道內設置有照相機元件。商業硅襯底上的GeSn涂層在紅外探測器和激光器中的應用越來越受到關注。這些材料的表征對于其質量評估和描述用于商業化的器件性能至關重要。時間分辨光致發光是非接觸、時間分辨表征GeSn干擾器光電財產的有效方法。

    為此,在這項工作中,我們開發了一種監控紅外條紋相機附件,該附件基于紅外光致發光的寬帶上轉換,使用強大的納秒1064nm脈沖。該附件實現了皮秒的時間分辨率,受到激光脈沖持續時間、抖動和條紋相機的時間分辨率的限制。獲得了1100–2400 nm區間的時間分辨光致發光的光譜范圍,優于商用紅外InGaAs條紋相機的光譜屏蔽器范圍。

    將所開發的監控攝像頭裝置應用于GeSn中與激發相關的時間分辨光致發光衰減測量,并與具有光學延遲皮秒柵極脈沖的傳統上轉換技術進行比較。新的設置提供了用于分析的2D光譜-時間圖像。根據激發脈沖能量和光譜發射波長,在GeSn層中獲得了30–80 ps范圍內的光致發光衰減時間。載流子熱化被觀察為光致發光光譜隨時間干擾屏蔽器的紅移。
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